老化ATE系統高效高性能方案——IT-M3100D
制造業要實現高效大規模的自動化生產模式,在產線上需要使用可靠穩定且高效的ATE測試系統,其中,老化測試系統是電子行業中非常常見的一種ATE。不管是元件,部件,整
機還是設備都需要進行老化測試,一方面可以預測產品的壽命,同時也可以促使隱藏于產品
內部的各種潛在缺陷及早暴露,從而達到早期剔除失效產品的目的。
傳統的老化方案是通過簡易的電源模塊給DUT提供穩定供電,由電阻箱進行拉載,這
種方案盡管可以降低設備成本,企業也需要投入更多的成本用于老化室的散熱。隨著“碳達
峰、碳中和”的相關發展政策落地,傳統的老化方案還可能會導致企業耗電量過高。從性能
方面來看,傳統的老化方案在模塊精度及速度、數據采樣、數據遠端訪問、測試吞吐量、維
護以及可擴展性方面都不夠靈活,無法滿足類似半導體芯片老化,軌道交通控制電源模塊老
化,汽車精密元器件以及車燈老化等待測物參數規格多、測試精度要求高的使用場景。
那么,如何搭建一套高性能又高效,兼具當下和未來需求擴展的老化系統呢?選擇合
適的老化測試儀器尤為關鍵。
1) 選用緊湊型、高功率密度的老化源或老化載,提升單機柜老化吞吐量。
以 ITECH *新雙通道直流電源 IT-M3100D為例,僅1/2 1U的標準體積內,兩個通道
可同時分別輸出400W功率,單機柜內*多可集成80個通道。通道相互隔離,即便單個通
道出現異常,不影響整體的老化運行。不僅如此,IT-M3100D雙通道之間支持串并聯以輕松
擴展老化電壓和功率范圍,系列單機可達 100V/10A/800W 或 30V/30A/800W 的單通道輸出,
滿足用戶不同規格產品老化需求。
2) 選用具備同步功能的老化測試設備,提升批量老化參數設置效率。
在批量的老化測試中,用戶往往需要對數百個通道的老化儀器設置相同的老化參數。
一般是通過軟件對每個通道依次發送相同的設置指令實現,這種方式受限于通信時間,效率
低。考慮到老化應用的一致性,IT-M3100D系列特別內置多通道同步控制功能,開啟該功
能,可以將*多8臺 M3100D(16CH)設備級聯在一起。測試人員只需要對其中一臺進行
電壓/電流的設置,其余通道自動復制,提升批量參數的設置效率。
3)選用具備通道級聯功能的設備,可優化數百通道老化的通信接線。
當老化的通道數高達上百通道時,通信連接將成為一個頭疼的問題,因為每個通道需
要引出一根通信電纜,密密麻麻的線纜會使得通信排查變得異常困難。為幫助工程師優化接
線,IT-M3100D系列通過通道級聯功能,PC只需要通過一根網線連接到其中一臺電源,即
可完成對16CH的程控簡化了通信接線。IT-M3100D系列 支持 CANOPEN、LXI、SCPI 等多
種通訊協議。五種選配卡實現即插即用功能,提供RS 2 3 2 、C A N、LAN、GPIB、USB_TMC、
USB_VCP、RS485、外部模擬量和IO等多種控制方式。
4)選用回饋式老化設備,節省電費成本。
在老化系統集成中,采用回饋式的負載替代傳統電阻箱,可以為企業節省一大筆電費
支出。回饋式負載可以將從 DUT吸收的能量逆變為交流電,供廠內其他用電負荷。目前針
對老化應用,ITECH提供從幾百W到MW級的回饋設備,回饋效率*高可達 95%(ITM3300/IT-M3800/IT8000)。
選擇合適的老化儀器,不僅可以提升企業的老化效率,還可以提升系統穩定性和易操
作性。IT-M3100D系列雙通道電源可廣泛使用在半導體、智能電子產品、LEN、電源等行業,
更多信息聯系我們。